| 특허청, 상표 심사·심판·재판관 합동세미나 개최 |
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특허청(청장 최동규)은 변리업계 등을 대상으로 4월 28일(금) 오후 3시 서울 한국지식재산센터 19층 대회의실에서 '현장 소통과 심사품질 제고를 위한 심사·심판·재판관 합동세미나'를 개최한다고 27일 밝혔다.
이번 세미나는 상표·디자인 출원에 대한 심사, 심판 및 소송을 각각 담당하는 심사관, 심판관, 특허법원 판사 등 판단 주체 간의 판단 기준 및 견해 차이를 최소화해 일관성 있고 효율적인 심사, 심판 및 소송 방안을 모색함으로써 출원인에게 실질적인 도움을 주고자 마련했다.
주요 내용으로 ▲대법원·특허법원의 상표·디자인 심결취소소송 및 침해소송 등의 주요 판례를 통한 법원의 견해 연구(특허법원 윤주탁 판사) ▲실제 분쟁사례를 통해 판단주체와의 견해차를 극복하기 위한 방법(특허심판원 윤종석 심판관) ▲최근 상표 심사관의 결정에 대한 이의심사관의 견해 및 이의신청관련 유의사항(특허청 복합상표심사팀 한상규 서기관) 등이 다뤄질 예정이다.
특허청 최규완 상표디자인심사국장은 "이번 합동세미나는 상표·디자인분야의 심사·심판·재판관 등 실무자 간의 토론을 통해 심사, 심판 및 소송단계에서의 상호 관점의 차이를 극복하기 위한 방안 등이 제시되는 장이 될 것이다"고 말했다.
아울러 "출원인 등은 각 단계에서 적정한 대응 해법을 찾을 수 있는 장이 될 것으로 기대한다"고 밝혔다.
한편, 세미나 자료집은 현장에서 배포할 예정이며 기타 자세한 사항은 특허청 상표심사정책과(042-481-5268)로 문의하면 된다.
(끝)
출처 : 특허청 보도자료
본 콘텐츠는 제공처의 후원을 받아 게재한 PR보도자료입니다.
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| [2017-04-27일 16:55] 송고 |
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